Pretražna tunelirajuća mikroskopija na promjenjivoj temperaturi (VT STM)

Pretražna tunelirajuća mikroskopija temelji se na kvantnomehaničkom fenomenu tuneliranja elektrona kroz potencijalnu barijeru. U sustave pretražne igle i površine uzorka elektroni tuneliraju iz uzorka u iglu, ili obrnuto, ovisno o nametnutom bias naponu. Ova tehnika omogućujue oslikavanje strukture površina i nanostruktura, te mapiranje gustoće elektronskih stanja integriranih po Brillouinovoj zoni.

Tipični STM skener dizajn  



Tehničke karakteristike instrumenta

Ultravisokovakuumski uvjeti u eksperimentalnoj komori, in-situ priprema uzoraka
TEHNIKE: VT STM, Difrakcija elektrona niske energije (LEED), Augerova elektronska spektroskopija (AES)

Shema VT sistema

VT STM: SPECS STM 150 Aarhus Rel.2, 90-400 K
LEED/AES: OMICRON SPECTALEED

Uvjeti korištenja

Mjerenja u dogovoru sa suradnicima laboratorija
STATUS INSTRUMENTA: U funkciji
KONTAKT: I. Šrut, M. Kralj, P. Pervan, M. Milun